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iX05

オペランド条件下での超高速ナノインデンテーション

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iX05 ナノインデンターは、幅広い操作条件(高温ナノインデンテーション、低温ナノインデンテーション、高ひずみ率ナノインデンテーションなど)における材料特性分析用の、MEMS ベースのスタンドアロン型ナノインデンターです。

iX05 は、高温、低温、高ひずみ速度など、幅広いオペランド条件下での材料特性解析に最適な、MEMS ベースのスタンドアロン型ナノインデンターです。

従来のナノインデンターは、実験室の条件下で材料を測定することに特化しています。しかし、実際の用途で使われる材料は機械的特性に大きな影響を与える過酷な環境にさらされていることがよくあります。iX05 は、こうした材料が置かれる現実の環境を再現した条件下で試験を行えるように最適化されています。

MEMS 技術による高解像度と高速性、そして高速制御エレクトロニクスおよび環境制御と組み合わせることで、iX05 は幅広い試験条件下で材料の機械的特性を測定および可視化できる究極のツールとなっています。

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